分光測色儀通過測量物體反射光的相對光譜功率分布,得到物體表面的反射光譜,再與CIE光譜三刺激值加權相乘,積分后求出樣品表面顏色的三刺激值、色坐標、色差等其他參數。系統設計的分光光度測色儀主要分為照明與觀測系統、分光系統、光電檢測系統以及電路控制系統等主要部分構成。
照明與觀測系統
照明與觀測系統包括了照明光源與照明與觀測幾何條件。
系統所要求的照明光源應在可見光波長范圍內具有連續的光輻射,并應具有一定的光強度。在每個波長處都具有相近似的足夠強的光譜能量,以提高儀器的信噪比。在分光測色儀中,CIE優先推薦的是D65標準光源,其相當于色溫為6504k的日光的光譜功率分布,在實際應用中多采用脈沖氬燈來模擬D65光源;另外也有采用鹵鎢燈來模擬標準A光源作為照明光源。
為了達到均勻照明的目的,在CIE推薦使用的幾種標準照明與觀測條件中,分光測色儀大多采用d/8與d/0結構,而45/0結構同樣也有儀器采用。其中d/8結構由于可以同時測量SCI和SCE兩種測量模式,為分光測色儀的最佳照明與觀測幾何條件[18]。
現有的分光系統大多采用單光束和雙光束光路兩種結構。單光束結構簡單,價格便宜。單光束儀器只有一個光柵和一個檢測器。所以測量時光源點亮兩次,分別測樣品和參考白板。而兩次測量時的系統誤差(光源光強分布差異,光路變化,溫度變化,電路漂移等)認為樣品和參考白板之間的差異。單光束光路結構簡單,但是穩定性差,隨著光源的波動測量效果有一定的誤差,分光結構中雜散光較多,信噪比大。由于測量時光源點亮兩次,所以如光源的變化會導致誤差變大,而不同的儀器之間也存在著誤差。
雙光束光路結構穩定性好,可以有效的消除由于光源波動而產生的誤差,雙光束儀器有兩個光柵和兩個傳感器。測量過程中光源只需要點亮一次就可以,同時測量樣品與參考點反射光譜,有效地就克服了光源變化所帶來的誤差,測量數據的精度非常高。雙光束光路結構精度高,穩定性好,但是由于需要兩個光柵和透鏡,無形中提高了成本。
分光系統
將混合光分散成一系列單色光光譜的現象稱為分光現象。常用的分光元件有光柵、棱鏡以及濾光片等。分光測色儀中分光系統最終目的都是將物體對各個波
光電探測系統
作為分光測色儀最重要的元器件,光電探測技術發展十分迅速,其測量精度和穩定性也不斷提高。目前應用較多的光電傳感器主要分為:
(1)CCD,電荷耦合傳感器;
(2)PDA,自掃描線性光電二極管陣列,屬于MOS圖像傳感器;
(3)CID,電荷注入傳感器。
這三種傳感器之中,光電二極管陣列具有較高的靈敏度和響應速度、較寬的線性動態范圍以及較好的波長分辨率和精度,目前分光測色儀多數探測器采用光電二極管陣列,少數采用CCD陣列。
電子控制與數據處理系統
主要包括電源控制與輸入輸出控制等模塊;對由光電探測器測量得到的光譜信號進行后期處理和數據計算,從而得到物體表面顏色的三刺激值及其他參數,并采用LCD顯示屏顯示結果。